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高通公司總裁第三次到國家發展改革委接受反壟斷調查
  來源:國家發展改革委       日期:2014-07-14     【字號 大  
 

  7月11日,美國高通公司總裁Derek Aberle第三次率團隊到國家發展改革委,就反壟斷調查的有關問題交換意見并接受調查詢問。

  價格監督檢查與反壟斷局許昆林局長、盧延純副巡視員與Derek Aberle總裁就高通公司涉嫌違反我國《反壟斷法》的情況及解決問題的路徑深入、坦率地交換了意見。

  同時,高通公司授權副總裁Fabian Gonell等人接受了案件調查人員的調查詢問。調查人員重點就以整機作為計算許可費的基礎、將標準必要專利與非標準必要專利捆綁許可、要求被許可人進行免費反許可、對過期專利繼續收費、將專利許可與銷售芯片進行捆綁、拒絕對芯片生產企業進行專利許可以及在專利許可和芯片銷售中附加不合理的交易條件等涉嫌違法行為,進行了現場調查并制作詢問筆錄。

 
 
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